產品中心

產品圖片 產品名稱/型號 產品描述
  • 晶圓應力凯发平台PA-110-T,Z大可測8英寸Wafer、藍寶石、SiC晶圓等結晶缺陷的評估,藍寶石或SiC等透明晶圓的結晶缺陷,會直接影響到產品的性能,所以缺陷的檢測和管理是製造過程中不可欠缺的重要環節,目前為止,產線上的缺陷管理,多是使用偏光片以目視方式進行缺陷檢測,但是這樣的檢查方式,因無法將缺陷量化,當各批量間產生變動或者缺陷密度緩慢增加時,就無法以目視檢查的方式正確找出缺陷。
  • 應力雙折射測量係統WPA係列可測量相位差高達3500nm,適合PC高分子材料,是Photonic lattic公司以其光子晶體製造技術開發的產品,*的測量技術使其成為*的光學測量產品。該產品在測量過程中可以對視野範圍內樣品一次測量,全麵掌握應力分布。WPA-200型更是市場上的萬能機器,適合用來測量光學薄膜或透明樹脂。量化測量結果,二維圖表可以更直觀的讀取數據。
  • 顯微鏡型相位差測量儀儀WPA-micro操作簡單,測量速度可以快到3秒,采用CCD Camera,視野範圍內可一次測量,測量範圍廣。測量數據是二維分布圖像,可以更直觀的讀取數據。具有多種分析功能和測量結果的比較。維護簡單,不含旋轉光學濾片的機構。
共 21 條記錄,當前 4 / 4 頁  首頁  上一頁  下一頁  末頁  跳轉到第頁 
網站首頁 公司簡介 產品中心 招聘中心 技術支持 企業動態 聯係凯发手机APP下载 管理登陸
北京凯发手机APP下载科技有限公司專業提供凯发平台等信息,歡迎來電谘詢!
GoogleSitemap ICP備案號:京ICP備26681550號-2 技術支持:化工儀器網