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紅外應力雙折射測量係統

  • 型   號：WPA-NIR
  • 價   格：

紅外應力雙折射測量係統WPA-NIR
硫係，紅外樹脂等材料對可見光不透過，這樣的樣品殘餘應力評估很難實現，為此Photonic Lattece 專門研製了WPA-NIR凯发平台，采用850nm或940nm波長，能高速的測量和分析近紅外材料的雙折射/殘餘應力分布。

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紅外應力雙折射測量係統WPA-NIR主要特點：

硫係，紅外樹脂等材料對可見光不透過，這樣的樣品殘餘應力評估很難實現，為此Photonic Lattece 專門研製了WPA-NIR凯发平台，采用850nm或940nm波長，能高速的測量和分析近紅外材料的雙折射/殘餘應力分布。

  • 紅外波長的雙折射/相位差麵分布測量

  • 硫係、紅外透明樹脂等的光學畸變評估

  • 小型、簡単操作、高速測量

  • WPA-NIR能高速的測量/分析波長為850nm或940nm的雙折射分布

  • 安裝既有的操作簡單和實用的軟件WPA-View

  • 可以自由分析任意線上的相位差分布圖形、任意區域內的平均值等的定量數據

  • 可搭配流水線對應的『外部控製選配』，也可應用於量產現場

紅外應力雙折射測量係統WPA-NIR主要功能：

  • NIR波長僅需操作鼠標數秒內就能獲取高密度的雙折射/相位差信息

  • 測量數據的保存/讀取簡單快捷

  • 全部的測量結果都可以做保存/讀取，易於跟過去的測量結果做比較等

  • 豐富的圖形創建功能

  • 可以自由製作線圖形和直方圖

  • 測量結果可以在一個圖形上做比較，也可以用CSV格式輸出  

紅外應力雙折射測量係統主要參數：

實際測量對比：

 


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